BGA実装基板を3秒で検査、アンドールがJTAGテストシステム展示へ…オートモーティブワールド2026

LXIを利用した自動計測のデモ
  • LXIを利用した自動計測のデモ
  • ピカリング社の障害挿入スイッチモジュール
  • 接続イメージ図

アンドールシステムサポートは、1月21日から23日まで東京ビッグサイトで開催されるオートモーティブワールド2026に出展すると発表した。

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同社は、BGA実装基板の効果的な実装検査システム「JTAGバウンダリスキャンテストシステム」や、ECUの開発現場で検証作業を効率化するための自動検査システム「ピカリングインターフェース社製PXIモジュール」などを展示する。

JTAGテストの展示では、BGA実装基板やQFP実装基板テストのIEEE1149.1規格「JTAGテスト/バウンダリスキャンテスト」を紹介。3秒でBGA実装基板の実装保証ができ、テストアプリケーションを自動生成でき、不良箇所をピンポイントで特定することが可能だ。ブースでは、JTAGテストの開発統合環境「JTAG ProVision」の自動テストのデモを実施する。

また、LXIを利用した自動計測のデモも展示。ピカリング社のPXIスイッチモジュールおよびLANケーブル1本でPCから制御可能なLXIモジュラーシャシーや、LXI規格対応の計測機を組み合わせて自動テストを実現するデモを行う。

さらに、ハーネスの断線・短絡を自在に挿入し、CAN通信の安全性評価の工数を削減する障害挿入スイッチモジュールも紹介。人手に頼っていた障害試験を自動化し、障害条件をワンタッチで再現できる。検査のばらつき・やり直しを削減し、開発・量産評価・検収試験にも適用可能だ。

併設の展示会では、アズビル太信のブースでJTAGのテストソリューションを展示している。

展示会は東京ビッグサイト西ホールで開催され、小間番号はW3-70だ。

《森脇稔》

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