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日立、半導体の欠陥を高感度検出する画像処理技術を開発 1枚目の写真・画像
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2025年2月28日(金) 06時15分
《写真提供 日立製作所》
機械学習を用いた高感度欠陥検出技術と回路レイアウトに応じた検出感度調整による過検出抑制技術
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