JFEテクノリサーチ、V-t試験を受託開始…矩形波印加で絶縁寿命を評価

ポリアミドイミド被覆銅線のV-t試験による寿命予測      
  • ポリアミドイミド被覆銅線のV-t試験による寿命予測      
  • パルス波の波形イメージ    
  • スイッチング波形の事例   

JFEテクノリサーチは5月19日、高性能インバータのスイッチング動作を模擬したパルス波電圧で、絶縁材料・部品の絶縁耐久性を評価する受託サービスを開始したと発表した。

同社は「矩形波印加による寿命評価(V-t試験:Voltage-time testing)」に用いる高圧パルス波電源を新規に導入し、急峻な立ち上がりのスイッチング波形を再現する。高温・低温や減圧など幅広い環境条件下で試験でき、モータ巻線や電動車用部材、パワーデバイス周辺材料の絶縁技術開発を支援する。

近年はEVや産業機器でインバータ駆動の高性能化が進み、モータ巻線などの絶縁材料には従来以上の耐パルス電圧性能が求められている。インバータのスイッチングで生じる急峻なサージ電圧は、正弦波ベースの耐電圧評価では予測しにくい絶縁劣化を招く場合があるため、実駆動環境を再現したV-t試験による寿命予測が求められていた。


《森脇稔》

特集